Vollautomatische Testlösungen für die Elektronikindustrie sind oftmals starr und wenig flexibel konzipiert. Dies kann insbesondere mittelständische EMS-Dienstleister oder OEMs vor vielschichtige Herausforderungen stellen: Zum einen benötigen sie Testsysteme, die sich auch bei häufigen Produktwechseln effizient und schnell einsetzen lassen. Zum anderen sollen die kostenintensiven Investitionsgüter möglichst lange mit der Entwicklung des Unternehmens und den dortigen Produktionsansprüchen „mitwachsen“. Dabei ist es vorteilhaft, wenn sich die Systeme auch Inline nutzen lassen. Überdies sollten sie idealerweise den oftmals eingeschränkten Platzverhältnissen Rechnung tragen.
Ein modular aufgebautes Testsystem mit einer möglichst schmalen Basisversion entspricht diesen Anforderungen. Trotz schlanker Bauweise kann es unterschiedlich große Baugruppen prüfen und lässt sich überdies in zwei Richtungen erweitern. Weil die Möglichkeit besteht, in einer Maschine mehrere Prüfköpfe wie etwa ICT, Boundary Scan, Flash, FKT/EOL u.ä. zu verbauen, kann das System unterschiedliche Aufgaben abarbeiten. Die Prüfköpfe selbst werden mittels Wechselkassetten an das Produkt angepasst. Falls nötig sorgen zudem zwei parallel laufende Conveyor für ein taktzeitoptimiertes Prüfen im Inlinemodus.
Um eine entsprechende Modularität zu erreichen und die Basisversion auch im Nachgang an die Anforderungen des Elektronikherstellers anpassen zu können, kann die Maschine in der Mitte geteilt und um zusätzliche Testmodule, Prüfköpfe und Bandsysteme erweitert werden. Dadurch wird die Insellösung zwar länger und breiter, jedoch ergeben sich so hochflexible Testoptionen.
Ferner besteht die Möglichkeit, mehrere Testanlagen hintereinander in Reihe zu schalten. Sollen hier einzelne Baugruppen lediglich bestimmten Testprozessen zugeführt werden, durchfahren diese Baugruppen im Inlinebetrieb nicht relevante Testmodule ungeprüft. Somit verbleiben alle Testmöglichkeiten permanent in der Fertigungslinie, ein Umbau ist jedoch nicht notwendig. Dadurch lassen sich Stillstandzeiten reduzieren und Taktzeiten optimieren.
